温升试验的目的

      温升试验也称发热试验，它是开关电器最基本的试验项目之一。开关电器在正常通电使用的情况下，内部不免有各种电能损耗，这些损耗可归纳为三种：一是金属导电体的有效电阻损耗，包括集肤效应和邻近效应的附加损耗在内；二是铁磁体的涡流和磁滞损耗；三是绝缘体的介质损耗，对低压开关电源来说，由于电压低，介质损耗与其他损耗，对低压开关电器来说，由于电压低，介质损耗与其他两种损耗相比一般可忽略不计。因此，内部电能损耗主要是导体的损耗和铁磁体的损耗两种。这两种电能损耗最后几乎都转变为热能，使开关电器的各部分发热，从而使温度升高。
      电器温度升高到一定限度后就可能出现下述几种影响正常工作的情况：
      第一，导电体的接触部分包括触头和固定接触连接，当温度升高至一定值后可能发生接触电阻的恶性增加现象。这主要由于接触电阻是由收缩电阻和表面电阻两部分组成的，其中表面电阻或称薄膜电阻是由氧化膜等薄膜所引起的电阻，此电阻一般随温度的升高而缓慢增加，但当温度升高至一定数值后，电阻值的增加将明显加快，严重时可能转化为恶性循环，即温度升高促使电阻增加，电阻的增加反过来又促使温度更快升高，如此相互作用，最后使接触点因过热而熔焊或烧坏。即使不发生恶性循环，接触部件的电阻过高也会影响运行的可靠性。例如，由于接触电阻的不正常增大而出现的不通电或不稳定通电情况，尤其在电路电压较低或电阻触头压力较小时更易发生。
      第二，对绝缘体来说，温度升高可使绝缘部件的绝缘电阻和绝缘强度（耐压水平）降低，因而可能影响安全运行。此外，温度升高会加速绝缘材料的老化进程，即缩短绝缘寿命以及可能使得某些绝缘材料发生软化变形而不能继续使用。
      第三，温度过高会影响电器的使用性能。例如继电器的电磁线圈温度过高可使某些继电器的延时不稳定；同样脱扣器的脱扣元件温度如超过一定数值，也会使脱扣性能不稳定；灭弧室温度过高则影响电器的熄弧能力；触头弹簧在高温作用下弹性会消失，使触头的接触变得不可靠等。
      第四，电器的操作手柄，外壳和底座等温度过高也会影响操作人员的安全操作。
      由于上述这些原因，所以对电器中某些部件的温度加以限制是必要的。制定电器的最高容许温度（或称极限允许温度）的标准，就是为了限制电器在正常运行条件下温度不至过高，从而保证不出现上述影响电器正常运行的因素。温升的试验目的则是验证、考核、检查或研究开关电器各部位的温升是否符合标准规定的温升限值，同时并验证设计及其所确定的数据是否正确。

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